单分散二氧化硅微球在半导体CMP抛光液中的创新应用

高纯度、窄分布二氧化硅微球显著提升CMP抛光效率与表面质量…

应用案例 2026-06-22
Application应用案例

随着半导体制造工艺节点不断缩小,化学机械抛光(CMP)对抛光液中磨料的粒径分布与纯度提出了更高要求。科耐科特凭借自主研发的单分散二氧化硅微球制备技术,为半导体 CMP 领域提供高性能抛光磨料解决方案。

产品技术优势

科耐科特单分散二氧化硅微球采用溶胶-凝胶结合微流控粒径控制技术制备,具有极高的球形度、极窄的粒径分布和超高纯度,可有效降低抛光过程中的表面划伤风险,提升抛光均匀性与材料去除率。

在先进制程下,磨料的单分散性直接决定了 CMP 的最终良率,这是行业共识。

核心性能指标

  • 粒径均一:CV 值 < 2%,远优于传统溶胶磨料
  • 超高纯度:金属杂质含量 < 1 ppm
  • 粒径可调:80nm - 500nm 范围精准可调
  • 表面可控:可定制表面修饰以适配不同抛光体系

应用成效

经多家晶圆代工厂验证,采用科耐科特单分散二氧化硅微球的 CMP 抛光液,抛光后表面粗糙度降低约 35%,材料去除率提升约 20%,缺陷密度显著下降。目前产品已实现量产供货,助力国产半导体材料供应链自主可控。

标签:# 二氧化硅微球# CMP抛光# 半导体# 单分散